產(chǎn)品簡介： 快速測量 操作簡單 非接觸式 非破壞性 極好的再現(xiàn)性 再現(xiàn)能力 基于用戶友好界面的Windows操作 圖像打印功能 數(shù)據(jù)保存 產(chǎn)品詳情： 產(chǎn)品簡介： 標準模式 工業(yè)規(guī)格 適合科研中心   尺寸  500 x 610 x 640 mm  重量  45Kg  類型  手動的  測量樣本大小  ≤ 8", 12"  測量方法  無連接的  測量原理  反射計  特點 測量迅速，操作簡單 非接觸式，非破壞方式 Print Function of Each View & Data Saving  活動范圍  200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")  測量范圍  100?~ 35?(Depends on Film Type)  光斑尺寸  40?/20?, 4?(option)  測量速度  1~2 sec./site  應用領域  All Capability of ST2000 & More Precision Measurement  Intended for Wafer Measurement & OLED  選項  Programmable Auto Z Stage  參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST)  焦點  Coaxial Coarse and Fine Focus Controls  附帶照明  12v 100W Halogen Lamp

 

產(chǎn)品規(guī)格

貨號	型號	名稱	規(guī)格	價格	備注	購買
	ST4000-DLX	薄膜測厚儀	活動范圍: 200mm x 200mm(8	登陸查看	來電詢價